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카테고리 2019
No 197
제목 10. [IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS] Electrical Stability Analysis of Dynamic Logic Using Amorphous Indium–Gallium–Zinc-Oxide TFTs
10. [IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS] Electrical Stability Analysis of Dynamic Logic Using Amorphous Indium–Gallium–Zinc-Oxide TFTs Yong-Duck Kim, Jong-Seok Kim, Jong-Il Lee, Ki-Lim Han, Beom-Su Kim, Jin-Seong Park, and Byong-Deok Choi.
첨부파일
Electrical Stability Analysis of Dynamic Logic Using Amorphous Indium–Gallium–Zinc-Oxide TFTs.pdf